当前位置:首页 > 赛多利斯电子分析天平温度漂移产生的原因

赛多利斯电子分析天平温度漂移产生的原因

[导读]赛多利斯电子分析天平是一种智能化质量计量仪器,是广泛应用于国防、科研、工厂、实验室的质量计量标准器具,具有称量快速、操作简单、自动校准、故障自诊断等多种机械天平所无法具备的功能与优越性。由于计量精密,灵敏度高,温漂与时漂成为影响电子分析天平计量性能的主要因素。以作者研制

赛多利斯电子分析天平是一种智能化质量计量仪器,是广泛应用于国防、科研、工厂、实验室的质量计量标准器具,具有称量快速、操作简单、自动校准、故障自诊断等多种机械天平所无法具备的功能与优越性。由于计量精密,灵敏度高,温漂与时漂成为影响电子分析天平计量性能的主要因素。以作者研制的TMP-200电子分析天平为例,其称量范围0~200g,感量为0.0001g,允许称量误差为0.0002g。对于如此精密的计量仪器,传感器和电路在工作过程中的温度影响,仪器随工作时间而产生的某些参数的变化,以及气流、振动、电磁干扰等环境因素的影响,都会使电子分析天平产生漂移。其中,气流、振动、电磁干扰等环境因素的影响可以通过对电子分析天平的使用条件加以约束,将影响程度减少到最低限度。而温漂和时漂主要是来自天平内部的自身影响和环境温度的影响,其形成的原因复杂,产生的漂移大,必须加以抑制。

相关文章